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提升5G測(cè)試效能

選擇可靠、高性能的微波/射頻電纜組件,能夠解決測(cè)試系統(tǒng)經(jīng)常遇到的很多問(wèn)題。例如,電纜組件性能差,會(huì)導(dǎo)致設(shè)備生產(chǎn)延遲、故障排除和維護(hù)頻率上升、頻繁校準(zhǔn)、數(shù)據(jù)完整性問(wèn)題、額外的重新測(cè)試、更高的總擁有成本、測(cè)試系統(tǒng)性能受損以及測(cè)試產(chǎn)量降低。閱讀5G白皮書(shū),了解更多詳情。

下載5G白皮書(shū),請(qǐng)?zhí)顚?xiě)您的相關(guān)信息:

戈?duì)枮楹娇蘸蛧?guó)防、航天、半導(dǎo)體以及測(cè)試和測(cè)量環(huán)境中的高柔性應(yīng)用提供具有顯著機(jī)械和電氣優(yōu)勢(shì)的高性能電纜組件。

Final Flex Cycle Count at IMS 2016

在IMS 2016展會(huì)戈?duì)柈a(chǎn)品專(zhuān)家Chris Cox公布電纜彎折周期最終的計(jì)數(shù)。

Gore's Solution to 5G Test System Challenges

我們利用材料專(zhuān)長(zhǎng)開(kāi)發(fā)出市場(chǎng)上唯一具有穩(wěn)定電氣性能、而且線(xiàn)徑最小、重量最輕鎧裝結(jié)構(gòu)的5G射頻微波測(cè)試電纜組件。我們的電纜組件具有長(zhǎng)期可靠性能,能夠幫助5G通訊測(cè)試客戶(hù)大大節(jié)省測(cè)試時(shí)間,降低測(cè)試成本。

Gore's Flex Simulator at IMS 2016

在IMS 2016全展期中戈?duì)栯娎|在彎折模擬裝置中作耐彎折測(cè)試。

Microwave/RF Assemblies for Test & Measurement Applications

應(yīng)用工程師Keith Cuthbert和銷(xiāo)售同事Steve Peterson參與錄制

提升5G測(cè)試效能

選擇可靠、高性能的微波/射頻電纜組件,能夠解決測(cè)試系統(tǒng)經(jīng)常遇到的很多問(wèn)題。例如,電纜組件性能差,會(huì)導(dǎo)致設(shè)備生產(chǎn)延遲、故障排除和維護(hù)頻率上升、頻繁校準(zhǔn)、數(shù)據(jù)完整性問(wèn)題、額外的重新測(cè)試、更高的總擁有成本、測(cè)試系統(tǒng)性能受損以及測(cè)試產(chǎn)量降低。閱讀5G白皮書(shū),了解更多詳情。